記者10日從中國科學技術大學獲悉，該校郭光燦院士團隊郭國平、曹剛等人與本源量子計算有限公司合作，利用微波超導諧振腔實現(xiàn)了對半導體雙量子點的激發(fā)能譜測量。相關研究成果日前發(fā)表在國際應用物理知名期刊《應用物理評論》上。
半導體系統(tǒng)具有良好的可擴展可集成特性，被認為是最有可能實現(xiàn)通用量子計算的體系之一。近年來硅基半導體量子計算取得系列進展，量子比特性能得到大幅提升，單比特和兩比特邏輯門保真度均已達到容錯量子計算閾值，如何進一步擴展比特數(shù)量、提高比特讀取保真度成為該領域的重要議題。
電路量子電動力學以微波光子為媒介，不僅可以用來實現(xiàn)比特間長程耦合，還可以用于對比特的非破壞性、高靈敏探測，是量子比特擴展和讀出的一種重要方案。研究人員制備了鈮鈦氮微波諧振腔—半導體量子點復合器件，利用鈮鈦氮的高阻抗特性，大幅提高了微波諧振腔與量子比特的耦合強度，達到強耦合區(qū)間。進一步通過在器件上施加方波脈沖，驅(qū)動電子在量子點的不同能級間躍遷，并利用高靈敏微波諧振腔讀取出了躍遷信號。利用該技術，課題組表征了雙量子點系統(tǒng)的能級譜圖，特別是利用信號對不同能級的響應特性，給出了系統(tǒng)的自旋態(tài)占據(jù)信息。
該成果利用微波諧振腔對量子比特能級譜和自旋態(tài)進行高靈敏測量，為將來實現(xiàn)半導體量子比特的高保真讀出提供了一種有效方法。(記者吳長鋒)
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